反射鏡的反射率取決于表面的粗糙度, 因此, 為了解決反應(yīng)燒結(jié)碳化硅存在的孔洞和雙金屬性問題, 普遍采用通過給表面鍍制一層厚的硅或者碳化硅的方法, 一達(dá)到表面改性的目的.

碳化硅材料憑借其優(yōu)異的物理性能和良好的加工特性成為當(dāng)前空間應(yīng)用的主要新型反射鏡材料.

離子源輔助鍍膜的薄膜制備工藝已成為一種成熟、高效的方法. 霍爾離子源可以通過電離惰性氣體, 輸出離子流密度均勻并具有較高能量的等離子體.

KRI 霍爾離子源輔助制備碳化硅改性薄膜

某國內(nèi)精密光學(xué)制造商為了進(jìn)一步提高碳化硅反射鏡基底表面光學(xué)質(zhì)量, 滿足高質(zhì)量空間光學(xué)系統(tǒng)的應(yīng)用需求, 采用電子*****蒸發(fā)純硅, KRI 霍爾離子源噴出的氫離子電離甲烷, 并以離子輔助沉積的方法在反應(yīng)燒結(jié)碳化硅基底上鍍制了表面改性用碳化硅薄膜, 并對改性膜層進(jìn)行了光學(xué)拋光處理.

KRI 霍爾離子源 Gridless eH 系列產(chǎn)品特性:

1.無柵極

2.高電流低能量

3.發(fā)散光束 >45°

4.可快速更換陽極模塊

5.可選 Cathode / Neutralize 中和器

在離子源工作之前, 鍍膜腔體需要將真空度抽至8x10-4 Pa, 該國內(nèi)精密光學(xué)制造商采用普發(fā) Pfeiffer Hipace 80 對鍍膜腔體進(jìn)行抽真空.

渦輪分子泵  HiPace 80 技術(shù)參數(shù)

伯東美國 KRI 離子源和 Pfeiffer 分子泵 Hipace 80 滿足客戶的工藝需求. 制造商在該工藝條件下制備的碳化硅薄膜為α相, 通過高分辨光學(xué)顯微鏡對拋光后的反應(yīng)燒結(jié)碳化硅基底進(jìn)行缺陷觀察, 發(fā)現(xiàn)改性拋光后基底表面缺陷和孔洞明顯減少.

這種鍍制碳化硅表面改性的方法在拋光后可以有效降低表面粗糙度, 并且散射值有了明顯的降低, 不到改性之前的1/8. 制備的碳化硅薄膜在冷人溫度沖擊下非常穩(wěn)定, 無脫膜、龜裂.

伯東是德國 Pfeiffer 真空泵, 檢漏儀, 質(zhì)譜儀, 真空計, 美國 KRI 考夫曼離子源, 美國HVA 真空閥門, 美國 inTEST 高低溫沖擊測試機(jī), 美國 Ambrell 感應(yīng)加熱設(shè)備和日本 NS 離子蝕刻機(jī)等進(jìn)口知名品牌的指定代理商.

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