帕剌斯SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）有兩種版本。U-SMPS帶有短分類柱（1700型），特別適合2-400nm范圍內的*精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統包括一個分類器[在ISO15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計的一個主要優點是可以進行非常快速的測量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發生器的下游）。可以通過物理參數直接追溯每時間單位（流量）的電荷測量值。其結果是，此方法主要用作凝結粒子計數器（例如UF-CPC）校準期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內執行單粒子分布掃描，或者多在128個尺寸通道中執行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估（豐富的統計和平均值計算）和導出功能。
U-SMPS通常作為獨立設備運行，但也可以使用各種接口連接到計算機或網絡。Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計。
U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要，特別是對于校準。所有組件都需通過嚴格的質量保證測試，并在內部組裝。
SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀
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