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更新日期2024-03-27 11:33
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品牌: |
安捷倫 |
所在地: |
廣東 東莞市 |
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Agilent 安捷倫8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀發(fā)完
8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀簡單介紹
頻率范圍:50MHz到20GHz有快速掃描的內(nèi)置合成信號源集成化的轉(zhuǎn)換S參數(shù)測試裝置矢量接收機(jī)、誤差修正、時域功能從外部磁盤驅(qū)動器直接儲存/調(diào)用達(dá)103dB動態(tài)范圍
20GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀的詳細(xì)介紹
Agilent8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀
Agilent8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀表征頻率范圍從50MHz到20GHz內(nèi)的RF/微波元件特性。Agilent8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀包括一個快速掃頻源、S參數(shù)測試裝置、調(diào)諧接收機(jī)和大的彩色顯示。這種集成化設(shè)計使得Agilent8720C小型、經(jīng)濟(jì)和方便使用。Agilent8720C對于研究開發(fā)、生產(chǎn)制造、產(chǎn)品入庫檢驗或質(zhì)量保證機(jī)構(gòu)中有成本和時間意識的工程師來說,是一理想的選擇。
性能優(yōu)良且價格合理的分析儀
Agilent8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀除價格能被接受外,其性能亦引人注目。集成信號源是全合成化的信號源,即使在掃描時,其穩(wěn)定度和精度也處在10ppm范圍(典型值)。另外,掃描速度極快。典型情況下,測量的更新時間約為每個測量點1ms,頻率分辨率標(biāo)準(zhǔn)為100kHz,選件001提供1Hz的分辨率,對窄帶或長延遲器件提供的測量。具有可變帶寬IF濾波器的調(diào)諧接收機(jī)提供達(dá)103dB的動態(tài)范圍。內(nèi)置轉(zhuǎn)換測試裝置用一次連接即可測量有4個S參數(shù)(正向和反向)。
兩個獨立的通道可同時顯示兩種測量結(jié)果,如反射和傳輸響應(yīng)。接收機(jī)對幅度和相位兩者進(jìn)行檢測,并以多種實用的格式顯示測量結(jié)果,包括在直角坐標(biāo)、極坐標(biāo)或史密斯圓圖上顯示群延遲、與線性相位的偏離、復(fù)阻抗和SWR。
內(nèi)置的矢量精度增強(qiáng)措施對有通用同軸連接器提供優(yōu)良的誤差修正精度。用戶配件能提供由用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)件,允許進(jìn)行波導(dǎo)校準(zhǔn)(包括色散效應(yīng))。從簡單響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)到全雙端誤差修正中選擇?;蛘呤褂肨RL來測量夾具上的非同軸器件(微帶)。
測量有源器件的強(qiáng)有力的功能
Agilent8720C在其測量端口上有+10dBm的功率,有足夠的功率用于對放大器進(jìn)行測試。對于一些靈敏的小信號器件,內(nèi)置步進(jìn)衰減器可以將功率減小到-65dBm。利用功率計的校準(zhǔn)功能,功率電平可以在系統(tǒng)的任何地方進(jìn)行調(diào)節(jié)。功率掃描功能和0.1dB的功率分辨率簡化了對有源器件的增益-壓縮特性的測試。此外,有2個內(nèi)部的T型通過測試端口用于偏置晶體管。
分析安裝在夾具中和晶片上的器件特性
利用TRL*校準(zhǔn)將夾具誤差減至小,以便對非同軸器件(如微帶)進(jìn)行測量。也可以將網(wǎng)絡(luò)分析儀與晶片探測臺相結(jié)合,以便能在晶片上直接測量器件。電子端口延伸和選通也可用來提高精度。
時域和故障定wei
用時域功能(選件010)對被測件(DUT)的響應(yīng)隨時間或距離(而不是頻率)的變化進(jìn)行計算和顯示。還可利用時域來查找并定量表示一個網(wǎng)絡(luò)中個別故障或不連續(xù)點的位置。應(yīng)用選通功能來消除不希望的反射的影響(及時分離),然后觀察DUT的真實響應(yīng)隨頻率變化的情況。
8720C主要技術(shù)指標(biāo)
具有可選1 Hz頻率分辨率的快速掃描內(nèi)置合成信號源
開關(guān)綜合測試儀通過單一連接測量全部四個S參數(shù)
提高矢量精度
可選時域功能能夠計算并顯示響應(yīng)隨時間或距離的變化
可選固態(tài)開關(guān)支持同時測量正向和逆向參數(shù),并根據(jù)兩部分誤差修正的需要持續(xù)更新全部四個S參數(shù)
合格/不合格測試、打印機(jī)/繪圖儀直接輸出結(jié)果、高級標(biāo)記功能以及保存/調(diào)用測試配置等特性可顯著提高生產(chǎn)效率
兩個獨立的顯示通道,用于同時測量反射和發(fā)射特征
本公司回收以下品牌各類儀器:
NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight(惠普/安捷倫/是德)、Keithley(吉時利)、KIKUSUI(菊水)、Panasonic(松下)、MINOLTA(美能達(dá))、Anritsu(安立)、 ADVANTEST(愛德萬)、FLUK(福祿克)、MARCONI(馬克尼)、R/S(羅德&施瓦茨)、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊)、Ando(安騰)、Aeroflex(艾法斯)、ITECH(艾德克斯)、STANFORD(斯坦福)、Lambda(電盛蘭達(dá))、YOKOGAWA(橫河)、EMCSOSIN(索莘)、RIGOL(普源)、IQ(萊特波特)、Lecroy(力科)、SUNLILAB(陽光)、Prima(普銳馬)、TOPCON(拓普)、SPIRENT(思博倫)、3ctest(泰斯特)、CYBERTEK(知用)、SHIBASOKU(芝測)、HAMEG(惠美)、TEXIO(德士)、EXFO(愛斯福)、GWINSTEK (固緯)
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