用途及使用方法

檢測開關(guān)根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出方法。
1. 接點(diǎn)輸出式
以微型開關(guān)、限位開關(guān)、繼電器的接點(diǎn)為輸出的開關(guān)要素，與電磁開關(guān)、小型馬達(dá)、電磁器等連接作為主要目的，可進(jìn)行數(shù)安培電流的開關(guān)控制。與電子控制設(shè)備連接時(shí)，需注意振動(dòng)時(shí)間、最小負(fù)荷電流。
2. 光電耦合輸出式
檢測電路電氣絕緣，與接點(diǎn)輸出式的使用方法相同。可控制10～50mA電流的開關(guān)。
3. 直流3線式
a. 電壓輸出型
如圖7所示的輸出電路，進(jìn)行檢測時(shí)，向負(fù)荷輸出電壓信號(hào)。電壓輸出型主要是以連接由電子計(jì)數(shù)器、無接點(diǎn)繼電器等的晶體管或IC構(gòu)成的電子控制設(shè)備為目的而制造的。
b. 電流輸出型
亦可稱為開放、集電極輸出型。如圖8所示，輸出晶體管動(dòng)作時(shí)，有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源)。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管，則可進(jìn)行50～200mA電流的開關(guān)，并可直接進(jìn)行電磁繼電器、電磁閥、直流電磁器、顯示燈等負(fù)荷的驅(qū)動(dòng)。
4. 直流2線式
該方式的接近開關(guān)有2根導(dǎo)線，因此，使用時(shí)對(duì)極性予以注意的話，不僅使用方法可與機(jī)械式限位開關(guān)相同，而且配線簡單，但需注意下述狀況。
(1) 即使開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，也需向接近開關(guān)的檢測電路供給電流。為此，負(fù)荷中有微量電流流動(dòng)。該電流稱為漏電流。漏電流時(shí)，負(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負(fù)荷電阻值”的電壓，此時(shí)使用高阻抗負(fù)荷會(huì)產(chǎn)生回復(fù)不良的現(xiàn)象。
(2) 開關(guān)開啟時(shí)，需向檢測電路供給電壓，此時(shí)，若開關(guān)不處于全開狀態(tài)，會(huì)發(fā)生數(shù)伏電壓下降的現(xiàn)象。該電壓稱為殘余電壓。為此，電源電壓需為“殘余電壓+負(fù)荷動(dòng)作電壓”的電壓值。最近的產(chǎn)品，一般漏電流在1mA以下，殘余電壓為3～5V。
PC、繼電器、電磁器、燈等可作為負(fù)荷使用，TTL等邏輯電路的輸入需注意前述事項(xiàng)。
5. 交流2線式
可使用AC200V的市用電源，進(jìn)行50mA～1A的交流負(fù)荷電源的開關(guān)。開關(guān)部件使用可控硅，動(dòng)作原理與直流2線式相同，因此，即使在開關(guān)關(guān)閉時(shí)，亦需向負(fù)荷供給電流。
由于開關(guān)開啟時(shí)，向內(nèi)部電路供給電流，為此，需使可控硅為非接通角，或與可控硅串聯(lián)插入穩(wěn)壓二極管，以至產(chǎn)生殘余電壓。因此，在選擇負(fù)荷時(shí)應(yīng)予以注意。交流2線式的漏電流為1.5～2mA，殘余電壓在10V左右。發(fā)生動(dòng)作不良、回復(fù)不良現(xiàn)象時(shí)，應(yīng)事先與負(fù)荷并聯(lián)并安裝分流電阻。

主要參數(shù)

使用條件：
溫度；-25-70℃
相對(duì)濕度;95[%](40℃)
額定負(fù)荷：DC30V 0.1mA
接觸電阻：≤50MΩ
絕緣電阻：≥50MΩ
耐電壓： AC250V 50Hz/1min
回 路： 1C-2P
壽 命： 100000次

與其他設(shè)備的連接

檢測開關(guān)的輸出種類在前面已作了介紹。進(jìn)行直接或通過繼電器向電磁器、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)器、計(jì)數(shù)器、程序控制器(PC)輸入時(shí)使用。為使檢測用開關(guān)與其他設(shè)備連接后信號(hào)得到正確的傳輸，需對(duì)電源種類、電流、電壓規(guī)格進(jìn)行輸出、輸入調(diào)整。
1. 接點(diǎn)輸出傳感器與PC的連接
作為PC的輸入模塊，可使用AC輸入模塊和DC輸入模塊。為將來自輸入模塊的電流控制在10mA之內(nèi)，需對(duì)接觸的可靠性進(jìn)行研究。作為其對(duì)策，可將輸入模塊與虛設(shè)電阻并聯(lián)，使通過接點(diǎn)電流增加，或使用具有微小電流接點(diǎn)的開關(guān)。
2. 直流開關(guān)型負(fù)公共端檢測開關(guān)的連接
確認(rèn)檢測開關(guān)的輸出電流(同步電流)大于PC輸入模塊的開啟電流。使用電壓輸出型檢測開關(guān)時(shí)，為防止由于電流逆流向傳感器引起錯(cuò)誤動(dòng)作，傳感器電源與輸入模塊電源的使用電壓應(yīng)相同。
3. 直流(交流)2線式檢測開關(guān)的連接
確認(rèn)檢測開關(guān)開啟時(shí)的漏電流比PC輸入模塊的關(guān)閉電流小，而電源電壓減去傳感器開啟時(shí)殘余電壓的值大于PC輸入模塊輸入開啟電壓。開關(guān)關(guān)閉時(shí)的漏電流大于PC輸入模塊關(guān)閉時(shí)的電流時(shí)，與輸入模塊并聯(lián)連接虛設(shè)電阻，使流向PC輸入模塊的電流減小即可。使用附帶氖燈或發(fā)光二極管的限位開關(guān)等亦需采取同樣方法。
4. 檢測開關(guān)與計(jì)數(shù)器的連接
計(jì)數(shù)器種類分為無電壓輸入型和電壓輸入型。使用電壓輸入型時(shí)，需對(duì)使用電壓輸出型的傳感器調(diào)整“H”、“L”等級(jí)進(jìn)行確認(rèn)。使用無電壓輸入型時(shí)，應(yīng)同時(shí)使用直流開關(guān)型負(fù)公共端輸出或接點(diǎn)輸出型。與接點(diǎn)輸出型共同使用時(shí)，需對(duì)從計(jì)數(shù)器中流出的數(shù)毫安電流是否確實(shí)具有開關(guān)動(dòng)作性能進(jìn)行確認(rèn)。
5. 檢測開關(guān)與電感性負(fù)載的連接
電感性負(fù)載(磁體、繼電器、電磁器)切斷時(shí)，產(chǎn)生數(shù)千伏的反電動(dòng)勢(shì)，從而引起無接點(diǎn)輸出型輸出元件的破壞和接點(diǎn)輸出型接點(diǎn)表面的粗糙導(dǎo)致的接觸不良現(xiàn)象。作為其對(duì)策，應(yīng)盡量在最接近電感性負(fù)荷之處并聯(lián)反電動(dòng)勢(shì)吸收元件(CR、非線性電阻、二極管)。

常見故障

1. 使用初期的故障
以光電開關(guān)、接近開關(guān)等為主體的檢測開關(guān)，半導(dǎo)體一般會(huì)在使用初期發(fā)生故障。
其原因是使用在回路中的半導(dǎo)體，在制造中受到種種應(yīng)力而導(dǎo)致在使用開始后的短期內(nèi)發(fā)生破損；另外，功率比半導(dǎo)體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi)。
2. 偶發(fā)故障
包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近開關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時(shí)，可以考慮為使用環(huán)境的問題，請(qǐng)向廠家咨詢。
3. 負(fù)荷短路與配線錯(cuò)誤
由于配線錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí)，導(dǎo)致大電流流向檢測開關(guān)，輸出回路燒毀。作為在檢測開關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策，可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法，通過熔斷器進(jìn)行保護(hù)，不僅可保護(hù)負(fù)荷短路，還對(duì)地線有保護(hù)作用。但是，由于開關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達(dá)不到100[%]的效果。
4. 干擾波導(dǎo)致的破損
由干擾波帶來的破損是慢慢形成的，因此在開始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該期間發(fā)生破損時(shí)，其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開閉時(shí)發(fā)生的檢測開關(guān)的瞬間錯(cuò)誤動(dòng)作是由干擾波造成的。