回收 Chroma 19305 繞線元件脈沖測(cè)試器   求購(gòu)

致茂Chroma 19305繞線元件脈沖測(cè)試器?
主要特色：

脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)
6kV 可程式脈沖測(cè)試
崩潰電壓分析
高速測(cè)試
單機(jī)大10通道掃描測(cè)試(19305-10)
可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)
繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
USB波形儲(chǔ)存& 畫(huà)面擷取功能
圖形化彩色顯示
標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面
Chroma 19305系列為繞線元件脈沖測(cè)試器，系列機(jī)種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測(cè)試，大擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測(cè)能力，10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試，擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量 (Flutter) 及波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian) 等判定 方法，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐 壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成 線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出 腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起， 故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。

所謂的『繞線元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非 破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物 上，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等 效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè) 試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之 缺陷，例如：層間短路、甚至是不易發(fā)覺(jué)之部分放 電等。

Chroma 19305系列為針對(duì)繞線元件測(cè)試需求所設(shè) 計(jì)，利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與 待測(cè)線圈形成RLC并連諧振，由諧振之衰減波形， 透過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出 線圈自體之絕緣不良及局部放電，提供變壓器、 電感等繞線產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測(cè)試，讓繞線元件 生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠 的測(cè)試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19305-10對(duì)于產(chǎn)線上的測(cè)試需求提供多 通道掃描應(yīng)用(大10通道) ，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成 本。

四種波形判定模式

波形面積比較 (Area Size)
波形面積差比較 (Differential Area)
波形顫動(dòng)總量 (Flutter Value)
波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian Value)
致茂Chroma 19305繞線元件脈沖測(cè)試器